显微镜：显微镜类型单筒显微镜/体视显微镜 放大倍率16X-200X 移动行程水平方向绕立柱360度旋转，Z轴50.8mm 光源外置LED无极调节亮度环形光源

* 适用于6英寸以内的各种半导体器件的高精度测试 *同轴驱动CHUCK *可以升级做射频测试 *20X~2000X 光学显微放大 *无后座力移动 *可以选择显微镜倾仰装置或者气动升降装置

GDWT-480型全自动型高低温真空探针台主要应用于I-V/C-V，PIV测试,传感器，半导体，光电，集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电子样品测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本，可以配合Keithley,Tektronix等国内外各种源表对材料进行测试，可以做材料的介电，铁电等测试,是目前高等院校和研究所及材料生产单位的重要辅助设备。

在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试得探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发得这款结构小巧，功能实用，成本较低得简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了非必要得部件，该探针台系统包含：光学成像部分，隔振平台，探针座，四维调整载片台（Chuck），真空吸附系统；

JKZC-DM系列探针台是我司一款基于高校教育与实验室而研发的基础型晶圆测试探针台。其结构紧凑，设计精密，价格实惠，配置灵活，性价比。在高等院校教学和小型实验室科研过程中得到了广泛运用，配合对应的仪器仪表，用于测试各类器件的IV、CV、l-t、V-t,光电信号，1/f噪声测试，器件表征测试，RF射频等。如 果您的测试器件pad电极大于50um,此系列探针台是。

JKZC-DN系列探针台是我司一款增强型晶圆测试探针台，最大可完成12英寸晶圆的电学测试。此系列探针台釆 用高刚性显微镜龙门结构，显微镜可X-Y-Z方向进行精密位移调节。卡盘具备上下调节功能,可以使探针与 样品快速分离，提高测试效率，在科研单位和半导体工厂都得到了广泛运用，配合对应的仪器仪表,可以完 成集成电路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性测试/管芯晶圆LED/LCD