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JKZC-DM系列探针台是我司一款基于高校教育与实验室而研发的基础型晶圆测试探针台。其结构紧凑,设计精密,价格实惠,配置灵活,性价比。在高等院校教学和小型实验室科研过程中得到了广泛运用,配合对应的仪器仪表,用于测试各类器件的IV、CV、l-t、V-t,光电信号,1/f噪声测试,器件表征测试,RF射频等。如 果您的测试器件pad电极大于50um,此系列探针台是。
更新时间:2025-05-30
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JKZC-DN系列探针台是我司一款增强型晶圆测试探针台,最大可完成12英寸晶圆的电学测试。此系列探针台釆 用高刚性显微镜龙门结构,显微镜可X-Y-Z方向进行精密位移调节。卡盘具备上下调节功能,可以使探针与 样品快速分离,提高测试效率,在科研单位和半导体工厂都得到了广泛运用,配合对应的仪器仪表,可以完 成集成电路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性测试/管芯晶圆LED/LCD
更新时间:2025-05-30
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JKZC-DH系列探针台是一款综合型晶圆测试探针台,最大可完成12英寸晶圆的电学测试。此系列探针台设备配 置十分丰富,不仅具备龙门架结构和卡盘的升降功能,还具备的卡盘快速移动技术,可快速定位 样品位置,提高测试效率。另外针座平台具备三段式升降功能,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到 快速分离,同时也方便探针卡的使用。此设备在大型实验室或者半导体工厂得到广泛运用,配合对应的仪器仪表,可以完
更新时间:2025-05-30
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JKZC-DSH系列探针台是我司自主研发的一款双面探针台,最大可完成12英寸晶圆的正反面点针测试。在具备常 规探针台的功能基础上,可用于晶圆和PCB板的测试,对晶圆或者PCB板正面和背面同时扎针以实现各种 光/电性能测试需求的测试,或背面点针,正面收集光线等,运用十分丰富。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。此设备在激光器,LD/LED/PD的光强/波长测
更新时间:2025-05-30
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JKZC-UC系列探针台是一款在非真空条件下实现低温环境的测试探针台。该产品釆用液氮或者空气压缩机制冷 ,自动控温,设备配置非常丰富。自带屏蔽暗室,一方面可以屏蔽无线电磁干扰,另外一方面也可以保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。此设备对于一些有温度需求的测试,尤其是低温,运用非常广泛。
更新时间:2025-05-30
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JKZC-DCHH系列高低温真空探针台是我司自主研发的一款在环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现 器件及材料表征的IV/CV特性测试,射频测试,光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷,可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料,半导体器件等研究方向具有广泛运用。
更新时间:2025-05-30
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