探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内精准控制，与其他电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。

JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台

JKGX-190光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。

JK-XRD原位冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。

冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控精度最高可达±0.1℃ 可实现样品变温测试的温度范围：-185~50℃ / -185~200℃，满足原位高低温材料相变微观表征。SEM原位冷热台适合于各种样品在扫描电子显微镜中进行高低温结构研究，固定在现有样品台上。支持在现有各种扫描电子显

JK-SEM1900原位拉伸冷热台是在SEM(扫描电子显微镜)下的一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。