光学冷热台JK-GH600-190是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。

光学冷热台是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。

-190~400℃纳米级控制精度探针电动控制结构紧凑 适用真空环境 详细参数

探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内精准控制，与其他电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。

JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台

JKGX-190光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。